吉岡教授、山中助教らの研究チームで製作したシリコンストリップ検出器のヒットレート耐性について評価した論文がイギリスのIOP PublishingとイタリアのSISSAから共同出版しているJournal of Instrumentationに掲載されました。

https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/21/07/P07039